心臓デバイス関連合併症で心血管死リスク増

2020年02月21日 14:20

　心臓植え込み型電気デバイス（CIED）に関連する合併症が心血管死リスクの増加と関連していたとする多施設前向き研究の結果を、イタリア・Cardinale Giovanni Panico HospitalのPietro Palmisano氏らがJACC Clin Electrophysiol （2020年1月29日オンライン版）に発表した。気胸やポケット血腫など比較的良性の合併症であっても、死亡リスクが増加していた。