心臓デバイス関連感染の発生率は？

　デバイス関連感染（DRI）は、心臓植え込み型電気デバイス（CIED）を使用した治療において深刻な合併症である。DRIの発生率や危険因子についてはこれまで複数の報告があるが、それぞれDRIの定義や検討した手術およびデバイスの種類が異なることに加え、長期にわたって追跡したデータもほとんどなかった。デンマーク・Odense University HospitalのThomas Olsen氏らは、約10万例のCIED植え込み例におけるDRI発生率を検討する大規模研究を実施。ペースメーカーの植え込み例ではDRIリスクは低いが、心臓再同期療法（CRT）のデバイス植え込み例や再手術例ではDRIリスクが高いことをEur Heart J（2019;40:1862-1869）に報告した。