インスリン抵抗性がDES留置後のlate catch-up現象の予測因子に

　経皮的冠動脈インターベンション（PCI）は虚血性心疾患患者に対する効果的治療法であることが確認されている。しかし，薬剤溶出ステント（DES）の導入により再狭窄率が低下したにもかかわらず，慢性期にはステント血栓症や遅発性にステント内に狭窄が認められるlate catch-up現象などの問題が存在する。獨協医科大学越谷病院循環器内科講師の小松孝昭氏らは今回，インスリン抵抗性（IR）が第一世代DES留置後の慢性期の死亡および主要心脳血管有害事象（MACCE）に関連しているかどうかを明らかにし，慢性期の再発，合併症の予防法を探ることを目的に研究を行った。その結果，IRがDES留置後のlate catch-up現象の予測因子になることをCirc J（2016; 80: 657-662）で報告した。