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心臓デバイス関連感染の発生率は?

デンマーク・約10万例の大規模研究

 2019年08月06日 05:00
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 デバイス関連感染(DRI)は、心臓植え込み型電気デバイス(CIED)を使用した治療において深刻な合併症である。DRIの発生率や危険因子についてはこれまで複数の報告があるが、それぞれDRIの定義や検討した手術およびデバイスの種類が異なることに加え、長期にわたって追跡したデータもほとんどなかった。デンマーク・Odense University HospitalのThomas Olsen氏らは、約10万例のCIED植え込み例におけるDRI発生率を検討する大規模研究を実施。ペースメーカーの植え込み例ではDRIリスクは低いが、心臓再同期療法(CRT)のデバイス植え込み例や再手術例ではDRIリスクが高いことをEur Heart J2019;40:1862-1869)に報告した。

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