心臓デバイス関連合併症で心血管死リスク増
心臓植え込み型電気デバイス（CIED）に関連する合併症が心血管死リスクの増加と関連していたとする多施設前向き研究の結果を、イタリア・Cardinale Giovanni Panico HospitalのPietro Palmisano氏らがJACC Clin Electrophysiol （2020年1月29日オンライン版）に発表した。気胸やポケット血腫など比較的良性の合併症であっても、死亡リスクが増加していた。
全文を読むにはログインが必要です
ログインして全文を読む
無料でいますぐ
会員登録を行う
- ご利用無料、14.5万人の医師が利用
- 医学・医療の最新ニュースを毎日お届け
- ギフト券に交換可能なポイントプログラム
- 独自の特集・連載、学会レポートなど充実のコンテンツ
＼ 60秒でかんたん登録 ／
会員登録
